在标准的单模跳线中，用于插入损耗测试的两个波长分别为1310nm和1550nm。所有单模光纤在任一波长下的工作情况都非常相似-也就是说，您无需根据波长购买光纤，一根光纤就可以适合所有波长。因此，如果您的光纤组件使用优质的材料和良好的技术正确构建，则在1310或1550上进行测试时，任何给定光纤连接器的插入损耗值都应该非常相似。
这导致一些生产商仅使用一个波长来测试其产品，仅在客户特别需要时才测试两个波长。在两个波长下进行测试都需要额外的设备，在某些情况下似乎不过是“必要的邪恶”。但是，使它成为在1310和1550上测试所有光缆组件的标准做法是有好处的：1310nm和1550nm测试波长之间的插入损耗变化对于确定产品和/或工艺的严重问题非常有帮助。
解决产品的任何单模插入损耗测试问题的一个有用技巧是记住以下几点：
（1）1310nm对对准问题更敏感
（2）1550nm对光纤弯曲问题更敏感
（3）1310和1550类似
如果制作得当，光纤组件将在1310或1550上测试大致相同。1550插入损耗的结果通常要好百分之几dB，这部分是由于其较低的光纤衰减。通常，连接器的插入损耗值在1550时比1310好的〜0.01-0.05 dB。
（4）1310高于1550
A连接器或整个产品设计，在1310时的插入损耗明显高于在1550时的插入损耗，表明两个配对的插芯之间的芯对芯对准可能存在问题。差异可能很小，实际上是可以接受的。失准越大，与1550相比，1310时的插入损耗就越大。失准的原因可能是由于许多因素引起的，最常见的原因可能是产品和测试组件受到污染，或者是光纤芯对金属套圈的同心度差。
希望可以消除污染，并且可以改进之前的制造过程以在测试之前消除污染。但是，同心度差通常是使用过大的密封垫圈造成的，因此，如果不更换连接器，则无法改善插入损耗。“相对尺寸过大”是相对的：套圈孔的直径大于光纤外径，则光纤最多能够在套圈中心侧坐下，因此预期的插入损耗（1310）更大。
（5）1550比1310高
一个连接器或整个产品设计，在1550时的插入损耗明显比在1310时高，这表明光纤组件中某处的光纤上可能存在应力点-最有可能是光纤弯曲超过工作弯曲半径，或产品内某处的光纤“捏”或微弯。应力越高（弯曲越大），与1310相比，在1550处的插入损耗就越高。但是，尽管上述纤芯偏移问题通常是原材料选择的正常结果，但直接施加在光纤上的任何过大应力都代表着严重的问题。产品可靠性存在风险，因此IL值@ 1550对于监视和排除故障尤为重要。
Wendy
Sophie
Jeanne
