测试跳线时显示出增益

在经过正确校准的IL / RL仪表上进行测量时，我的某些跳线显示出增益。这怎么可能？由于跳线无法获得增益，是仪器有问题吗？如果您的IL / RL测量仪已正确校准，则仪器可能没有任何问题。要了解这个令人费解的问题，我们必须查看测量方法。

请记住，不可能单独测量跳线。它需要连接到某物–需要测试跳线

一种测试方法使用一对测试跳线：启动和接收。将它们连接在一起以进行参考，然后将被测设备（DUT）插入它们之间。这样就得出了跳线的总插入损耗，包括两端的连接。IL仪表仅报告基准和测量连接之间的功率差异。

如果测试光纤连接器是完美的，则它们在参考阶段不会造成任何损失。测量的任何损失都可能是由于DUT的连接器或光纤中的缺陷。如果测试光纤存在几何误差，则参考时偏离适当居中状态可能会产生损耗。

在最坏的情况下，偏移量将为180度。如果DUT恰好在每个端都有偏移量以匹配测试光纤，则在某种程度上它将抵消偏移量的影响。因此，测量损失（由于这种影响）将小于参考损失，并且光纤的插入损耗将为负，这似乎具有增益！

通常，测试跳线偏移将相对于被测设备处于随机方向，其他损耗影响可能更大。效果是从DUT的真实IL中随机增加或减去少量。但是有时会出现实际的增益。

作为附带说明，我建议使用高质量的测试跳线，以帮助确保准确的插入损耗测量。显然，要确定跳线的性能，必须使用其他光纤，这些光纤的质量会影响被测设备的测量结果。您可以使用高质量的跳线，但是对于您的生产设施而言，它们可能会非常昂贵。另一方面，使用来源不明的廉价跳线不是一个好主意。我建议您购买由成熟的一流制造商生产的高质量跳线，嘉富在此提供。

如果您对测试跳线有疑问，请随时与我们的技术专家联系，我们将尽快答复。我们的目标是提供信息和教程，以便您可以不断改善测试过程。

如何准确测量IL / RL –本文讨论了为什么测量插入损耗和回波损耗很重要，以及如何精确测量IL / RL。另外，我提供有关在测量RL时是否使用心轴套，折射率匹配凝胶或光学时域反射仪（OTDR）的具体建议。

IL / RL差的原因是什么？–在这次详尽的讨论中，我处理了多个生产问题，这些问题可能会导致不良的插入损耗和回波损耗，并提出了解决这些问题的具体建议。

插入损耗测量，而不是一项琐碎的任务–如果您的生产设备是新的，是否应该制造自己的发射跳线？至少在最初，这可能不是一个好主意。另外，您知道发射跳线应该使用相同的光纤类型，而不仅仅是相同的大小吗？

环通量–相对非技术性的概述– IEC 61280-4-1标准规定了在发射到被测设备中时光（通量）的分布。“环绕光通量”是一种相当宏伟的方式，可以说出磁芯内给定尺寸的每个圆圈内的光量。

双向测试是将所有光学测试时间缩短一半的灵丹妙药吗？许多光纤装配厂都希望进行双向测试以节省时间。但是，有些不能正确使用此测试方法。