测量单模跳线的插入损耗似乎很简单，但要考虑一些复杂因素。
插入损耗是一个相对的度量，它是在光电路中添加一个附加无源元件时的功率降低。所以，测量插入损耗是一个两部分的过程-测量通过基准路而到来的功率，那么DUT后电源已插入。区别是IL。
未配对光纤连接器的损耗可以通过数学估算，但无法测量，只能测量一对配对连接器的连接。
在实际的测量设置中，测试光纤用于向（从）被测设备传输（有时收集）光。因此，这些测试光纤的质量与DUT报告的IL有直接关系，因为测试光纤始终是所测连接的一部分。不幸的是，不可能以任何有意义的方式来划分测得的测试连接器/ DUT连接器损耗，并将损耗的一部分分配给测试光纤，将其余部分分配给DUT。如果测试连接器在每个细节上都是完美的，则所有损耗都可归因于DUT，但没有光缆是完美的，所有光纤连接器都会引入一些损耗，尽管损耗很小，包括测试光纤。
连接损耗的很大一部分是由于光纤连接器的一个或多个几何参数不匹配造成的。考虑“横向纤芯偏移”，其中纤芯与套圈并非完全同心。如果配对的连接器具有不同的偏移量或沿不同的方向偏移，则某些光将被引导到包层中并丢失。这种偏移可能是由于芯子未居中的光纤，带有不同心的光纤孔的不良插芯或组装不良导致的杂物将光纤推向插芯孔的一侧。对于单模连接，偏移为0.3微米将产生约0.4 dB的损耗
跨一对连接器的失调损耗的一个重要方面是，它不是一个简单的标量，而是取决于失调的方向。如果偏移量具有相同的程度和方向，则磁芯将匹配，并且损耗可能很小，但以相反的方向定向则会产生高损耗。
这种定向效应会产生一些令人不安的结果。在双测试光纤测量中，如果发射和接收光纤在相反方向上有偏移，则参考路径（将它们连接在一起时）将具有明显的损耗。
Wendy
Sophie
Jeanne
